X線CT – evaluation

評価 – X線CT

評価 – X線CTについて

評価_X線CT

従来では検出できなかった内部欠陥を評価可能

製品の外観観察だけでは発見することができないものも、X線技術を適用すると可視化することができます。

従来の座標測定機では検出できなかった製品内部構造や素材内部欠陥を測定、分析、検査できます。

取扱設備

X線CT装置 - Waygate Technologies
(Phoenix Nanotom M)

X線CT装置 – Waygate Technologies
(Phoenix Nanotom M)

仕様

項目
最大電圧/電力180kw / 20W
幾何学的拡大(3D)1.4x~300x
最高検出能~200nm(0.2ミクロン)
最小体積~300nm(0.2ミクロン)
ピクセル3,072×2,400
ピクセルサイズ100μm
可変集点検出距離200mm~600mm
最大サンプル直径1mm~240mm
最大サンプル高 / 重量250mm/3kg
サンプル移動距離 Y/Z250mm/400mm
回転0°~360°

出力ファイル形式

  • VGデータ、STLデータ、各種画像データ

撮影サンプル

評価 _X線CTの撮影サンプル(SDカード)
評価 _X線CTの撮影サンプル(ポンプノズル)
評価 _X線CTの撮影サンプル(葉っぱ)