X線CT – evaluation
評価 – X線CT
評価 – X線CTについて
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従来では検出できなかった内部欠陥を評価可能
製品の外観観察だけでは発見することができないものも、X線技術を適用すると可視化することができます。
従来の座標測定機では検出できなかった製品内部構造や素材内部欠陥を測定、分析、検査できます。
取扱設備
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X線CT装置 – Waygate Technologies
(Phoenix Nanotom M)
仕様
項目 | 値 |
---|---|
最大電圧/電力 | 180kw / 20W |
幾何学的拡大(3D) | 1.4x~300x |
最高検出能 | ~200nm(0.2ミクロン) |
最小体積 | ~300nm(0.2ミクロン) |
ピクセル | 3,072×2,400 |
ピクセルサイズ | 100μm |
可変集点検出距離 | 200mm~600mm |
最大サンプル直径 | 1mm~240mm |
最大サンプル高 / 重量 | 250mm/3kg |
サンプル移動距離 Y/Z | 250mm/400mm |
回転 | 0°~360° |
出力ファイル形式
- VGデータ、STLデータ、各種画像データ
撮影サンプル
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